仪器特点：

  ●硬件系统和软件系统的完美结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要

●高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果

●高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度

●各种功能附件满足不同测试目的需要

●程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观

●未知样品中一种和多种物相鉴定

●混合样品中已知相定量分析

●晶体结构解析（Rietveld结构分析）

●非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）

●薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度

●微区样品的分析

●金属材料织构、应力分析